基于FPGA的集成運放參數測試儀

基于FPGA的集成運放參數測試儀

基于FPGA的數字式集成運放參數測試儀摘要：本設計在國家標準規定的輔助運放測試法的基礎上，分析了影響運算放大器參數測試精度和穩定性的諸多原因和因素，采取了在被測運放的反饋網絡中引入二次超前補償等針對性的措施，對運算放大器自動參數測試提出了優化的設計方法。
本文描述了通用型運算放大器參數自動測試系統的設計。作品能夠測試輸入失調電壓VIO，輸入失調電流IIO，開環增益AVD，交流共模抑制比KCMR和基極偏置電流IIb等參數。通過菜單選擇，可進行單參數測量或多參數自動測量，其結果顯示于液晶屏上并可通過微型打印機打印。作品還具有將被測運放閉環幅頻特性曲線顯示于模擬示波器上的功能。
運放參數主測試電路[1]采用輔助放大器測試法設計，通過相位補償網絡消除電路自激現象。不同參數測試電路及量程的自動切換通過開關矩陣實現。系統高速掃頻信號源通過DDS電路產生，而5Hz交流測試信號源利用D/A實現。由于采取了較好的隔離和抗干擾措施，使系統穩定性及測試精度得到大大提高。 采取FPGA芯片使系統控制更加穩定，具備較好的擴展能力。通過自制測試電路（參照國標GB342-82）對本測試儀定標，使作品的各項參數測試能夠有較好的精度。
關鍵詞：集成運放； 參數測試；自動測試系統； FPGA. BASED ON FPGA DIGITAL INTEGRATED FUNNCTIONAL PARAMETER TESTERAbstract: Based on the assistant test methods of OA mentioned in the national standard, a lot of factors are considered, which influence the precision

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