使用衰減濾光片擴大CCD測溫范圍的研究

使用衰減濾光片擴大CCD測溫范圍的研究

全部作者： 孫元 彭小奇 第1作者單位： 中南大學物理科學與技術學院 論文摘要： 彩色CCD（電荷耦合器件）應用于輻射測溫時對其動態響應范圍有著非常苛刻的要求。由于CCD圖像傳感器的動態響應范圍較窄，單獨利用CCD測溫時，測溫范圍難以達到高溫檢測的應用要求。為此，有學者提出利用中性衰減濾光片來擴大測溫范圍。通過分析CCD光電轉換特性及曝光量與溫度的關系，指出使用衰減濾光片雖然可以擴大測溫范圍，但是其效果有限，仍難以滿足高溫測量的應用要求，實驗結果證明了結論的正確性。 關鍵詞： 輻射測量；彩色CCD；衰減濾光片 (瀏覽全文) 發表日期： 2007年03月30日 同行評議：

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